Patent:
WO2010009918A1,DE102008034162, EP2300810, US2012002036
01/2010
Die Prüfung großer Industriekomponenten auf verborgene Fehler erfordert in der Regel starre, stark strukturierte Scansysteme, die mit komplexen Formen Schwierigkeiten haben. Diese Erfindung bietet ein...
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