Patent:
EP2386850A2,US2010292938, US8527215
11/2011
Die Prüfung von Metallteilen auf verborgene Fehler wie unter der Oberfläche liegende Risse ist traditionell zeitaufwendig und schwierig und erfordert oft eine Beschädigung des Materials, um dessen Unv...
Patent:
US2010292938A1,EP2386850, US8527215
11/2010
Die Prüfung von Metall und anderen elektrisch leitfähigen Bauteilen auf verborgene Fehler wie unter der Oberfläche liegende Risse ist traditionell ein langwieriger und schwieriger Prozess. Diese Erfin...
Patent:
WO2010009918A1,DE102008034162, EP2300810, US2012002036
01/2010
Die Prüfung großer Industriekomponenten auf verborgene Fehler erfordert in der Regel starre, stark strukturierte Scansysteme, die mit komplexen Formen Schwierigkeiten haben. Diese Erfindung bietet ein...
Patent:
DE102007032063A1,US2009046758
02/2009
Das Aufspüren versteckter Risse oder innerer Fehler in Fertigungsteilen ist für die Sicherheit von entscheidender Bedeutung, doch bei herkömmlichen Prüfverfahren können Fehler übersehen werden, die pa...
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