Aktive Thermografie mit elektromagnetischer Anregung

Die aktive Thermografie mit elektromagnetischer Anregung, d. h. die Induktions- und Leitungsthermografie, ist ein zuverlässiges Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung mit einem breiten Anwendungsspektrum. In den vergangenen Jahren wurden die Grundlagen der elektromagnetischen Anregung untersucht, einschließlich des Einflusses des Materials des zu prüfenden Bauteils und der erforderlichen Nachbearbeitungsalgorithmen. In diesem Beitrag wird eine Untersuchung zu Fehlermodellen vorgestellt, darunter Delaminationen, die bekannten Schlitz- und Kerbrisse, Kontaktpunkt- und „Bereiche mit verminderter Leitfähigkeit“-Risse sowie unter der Oberfläche liegende Risse. Es wird eine detaillierte Parameterstudie erörtert, die Parameter wie Tiefe, Breite, Länge, Position des Induktors, Drehung und Neigung umfasst.