Patent:
DE102013209615A1, EP2965076, US2016069843, WO2014187580
Patentfamilie: 050156749
11/2014
Hier folgt eine klare, leicht verständliche Zusammenfassung der Erfindung für ein allgemeines Publikum: Ultraschallprüfsysteme werden häufig zur Untersuchung industrieller Scheiben auf verborgene Fehler eingesetzt, doch ohne zuverlässige Referenzstandards kann es schwierig sein, die Genauigkeit dieser Diagnosegeräte sicherzustellen. Diese Erfindung stellt eine speziell entwickelte Kalibrierscheibe vor, die sorgfältig konstruierte künstliche Fehler aufweist, die sicher in ihrer Struktur verborgen sind. Durch die Bereitstellung eines präzisen und wiederholbaren Ziels für Ultraschallwellen ermöglicht diese Master-Scheibe Technikern, ihre Prüfgeräte vor kritischen Sicherheitskontrollen genau zu testen und zu kalibrieren.